X射線衍射儀(XRD)
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技術指標
粉末X射線衍射分析儀由單色X射線源、樣品臺、測角儀、探測器和X射線強度測量系統所組成。Cu(Mo)靶X射線發生器發出的單色X射線通過入射soller狹縫，發散狹縫照射樣品臺，X射線經試樣晶體產生衍射，衍射線經出射狹縫，散射soller狹縫，接受狹縫被探測器檢測。X射線管發射的X射線照射晶體物質后產生吸收、散射、衍射X熒光、俄歇電子和X電子。晶體中原子散射的電磁波互相干涉和互相疊加而產生衍射圖譜。X射線粉末衍射圖譜可以提供三種晶體結構信息：衍射線位置（角度）、強度和形狀（寬度），根據這些信息可以進行晶體結構分析、物相定性及定量分析和晶粒大小分析等。相關應用
金屬材料分析：了解材料的化學成分，如各種鋼及合金、鋁合金、鎂合金、鈦合金、鐵合金等。陶瓷材料分析：分析陶瓷原料成分的純度、燒制反應物成分、以及各種陶瓷的定性定量分析。
高分子材料分析：分析聚合物中各種添加元素如Al、Mg、P、Ca、Ti、Cu等；分析塑料中有害成分；分析聚合物表面鍍膜及化學處理成分等。
催化劑材料分析：分析催化劑中微量元素，剖析催化劑的組成。礦物材料分析：分析各種礦物材料的組成、穩定性、原料的真偽等。
